众所周知，数字前端设计对于工程师的能力要求比较高，不仅有学历上的要求，还要求掌握很多的知识技能。不少跨专业想要转行的小伙伴对数字前端设计这个岗位不是很了解，下面IC修真院就带大家全面了解一下数字IC前端设计。数字前端到底是什么？集成电路设计（IntegratedCircuit，简称IC）一般分为数字IC设计、模拟IC设计和数模混合IC设计。数字IC设计一般又会进一步细分为前端设计（Front-endDesign）和后端设计（BackendDesign）。前端数字IC工程师的工作一般包括电路规范（Spec.）的撰写，电路架构的设计，电路的实现以及验证、综合出符合要求的电路网表（netlist），
IC笔试有：JL科技、TR半导体、HZW、MX半导体、RSKX、TCL部分题目暂时还是做不出来，先好好复习一遍，会有柳暗花明的时候的。目录RY10.11TCL10.9位宽定义正确的是逻辑与或和按位与或的题目运算符优先级的题目代码覆盖率有哪些的题目使用fifo实现monitor和scoreboard之间的通信，当monitor占据主动地位，scoreboard被动接收时，下列说法不正确的？有关sequence说法不正确的？linux修改权限关于寄存器级流水线设计描述正确的是？（多线）简述一下带rsp的mastervip的流程（主观题）时序违例有哪几种，解决办法是什么？（主观题）简述TLM定义，t
数字IC设计笔试题汇总（一）快秋招了，这篇博客记录了一些最近看见的数字IC设计相关的笔试题，仅供参考1.用100MHz的时钟A去采样200MHz的时钟B（与A无关）产生的8bit信号是同步采样还是异步采样？采样时需要注意哪些问题？怎样解决？同步采样：跟踪采样，即是采样频率始终与系统的实际运行的频率保持固定的比例关系，必须是采样频率随系统的运行的频率的变化而实时地调整；异步采样：定时采样，即采样周期Ts或采样频率fs永远地保持固定不变。在这种采样方式下，采样频率fs不随模拟输入信号的基波频率变化而调整。搞不清楚这公司想问什么？200MHz下产生的信号长度为5ns，而100MHz时钟的周期为10n
什么是模块化设计FPGA/IC设计中根据模块层次的不同有两种基本的设计方法：自下而上方法对设计进行逐次划分的过程是从基本单元出发的，设计树最末枝上的单元是已经设计好的基本单元，或者其他项目开发好的单元或者IP。该方法先对底层的功能块进行分析，然后使用这些模块来搭建规模更大的功能块，如此继续直至顶层模块。自上而下的设计是从系统级开始，把系统分为基本单元，然后再把每个单元划分为下一层次的基本单元，继续划分知道满足设计要求为止。该方法先定义顶层功能块，进而分析需要哪些构成顶层模块的必要子模块；然后进一步对各个子模块进行分解。设计中这两种方法往往是混用的。设计师首先根据功能定义好顶层模块，然后依据一定
欢迎讨论verilog&知识点问答1写一个64位的计数器，由于器件和时钟频率的限制，当计数器位宽大于17位时时序无法收敛。因此内部每一个计数器的位宽不能超过17位。可以采用拆分加法器的方式实现。计数器的使能信号为CntEn,高电平时开始计数，低电平时计数值保持。模块接口如下，请补全代码。2复位3竞争冒险3.1引起组合逻辑电路发生竞争冒险的原因是()3.2判断：竞争和冒险只在组合逻辑中出现4分频电路5移位操作6计数器6.1减法计数器6.2扭环计数器移位寄存器由8级触发器组成，用它构成的扭环形计数器具有______种有效状态；用它构成的环形计数器具有______种有效状态，构成线性反馈移位寄存器具
流控，简单来说就是控制数据流停止发送。常见的流控机制分为带内流控和带外流控。FIFO的流水反压机制一般来说，每一个fifo都有一个将满阈值afull_value（almostfull）。当fifo内的数据量达到或超过afull_value时，将满信号afull从0跳变为1。上游发送模块感知到afull为1时，则停止发送数据。在afull跳变成1后，fifo需要能够缓存路径上的data以及上游发送模块停止发流之前发出的所有data。这就是fifo的流控机制。下图是fifo流控机制的示意图。如下图所示，数据data和有效信号vld从模块A产生，经过N拍延时后，输入到FIFO，FIFO产生将满信号a
数字IC全站文章索引demo版（建议收藏慢慢看）*一、项目说明*1.1索引目的1.2收录原则1.3投稿方式1.4版本迭代二、数字IC学习路线三、通用技能篇*3.1数字电路3.2硬件描述语言(Verilog)3.3linux操作系统3.4C语言3.5微机原理3.6汇编语言3.7计算机组成原理3.8计算机体系架构3.9STA静态时序分析3.10SystemVerilog3.11UVM3.12SVA3.13信号与系统3.14数字信号处理四、总线、接口与协议*4.1UART协议4.2SPI协议4.3I2C协议4.4AMBA协议*4.4.1AHB4.4.2APB4.4.3AXI4.4.4AXI-stre
前言在通信过程中由于存在各种各样的干扰因素，可能会导致发送的信息与接收的信息不一致，比如发送数据为1010_1010，传输过程中由于某些干扰，导致接收方接收的数据却成了0110_1010。为了保证数据传输的正确性，工程师们发明了一些检错方法，比如奇偶校验和CRC校验。CRC校验（CyclicRedundancyCheck，循环冗余校验）是数据传输过程中常用的一种检错方法，针对要发送的数据，其使用一些特定的多项式可以计算出CRC检验结果，CRC校验结果与原始数据一起传输到接收端。接收端在接收数据的同时按照相同的多项式对接收数据进行校验预算，并将校验结果和接收的结果进行对比，如果二者相同则认为没有
前言一般来讲，如果要实现移位寄存器的话，通常都是写RTL用reg来构造，比如1bit变量移位一个时钟周期就用1个reg，也就是一个寄存器FF资源，而移位16个时钟周期就需要16个FF，这种方法无疑非常浪费资源。XilinxFPGA的SLICEM中的一个查找表LUT可以配置为最多移位32个时钟周期的移位寄存器，这比直接用FF来搭省了31个FF资源。这种方法可以通过调用原语SRL16E（最多16个周期）和SRLC32E（最多32个周期）来实现。SRL16E#(.INIT(16'h0000),//Initialcontentsofshiftregister.IS_CLK_INVERTED(1'b0)
前言： 本专栏旨在记录高频笔面试手撕代码题，以备数字前端秋招，本专栏所有文章提供原理分析、代码及波形，所有代码均经过本人验证。目录如下：1.数字IC手撕代码-分频器（任意偶数分频）2.数字IC手撕代码-分频器（任意奇数分频）3.数字IC手撕代码-分频器（任意小数分频）4.数字IC手撕代码-异步复位同步释放5.数字IC手撕代码-边沿检测（上升沿、下降沿、双边沿）6.数字IC手撕代码-序列检测（状态机写法）7.数字IC手撕代码-序列检测（移位寄存器写法）8.数字IC手撕代码-半加器、全加器9.数字IC手撕代码-串转并、并转串10.数字IC手撕代码-数据位宽转换器（宽-窄，窄-宽转换
